Для корректной работы этого сайта необходима поддержка JavaScript и "cookies" Вашим браузером. Подробнее

МЫ ПРИНИМАЕМ ЗАКАЗЫ ПО ТЕЛЕФОНАМ +7 (495) 374-94-88, 8(800) 775-80-36 (бесплатно для регионов) С 10:00 ДО 19:00
Здравствуйте, Гость! (Войти в систему)

Ваша корзина

В корзине 0 товаров на сумму
0 руб


Отложено: 0 товаров

Ваша корзина пуста.

Нажмите кнопку "В корзину" на интересующих вас товарах.

Лучшие книги недели

Древняя Русь в свете зарубежных источников - Джаксон Т.Н. - купить  книгу с доставкой

Древняя Русь в свете зарубежных источников

Джаксон Т.Н., Бибиков М.В
532 руб
Мир-система Модерна. Том 1. Капиталистическое сельское хозяйство и истоки европейского мира-экономики в XVI веке - Иммануэль Валлерстайн - купить  книгу с доставкой

Мир-система Модерна. Том 1

Иммануэль Валлерстайн
675 руб
Евреи, конфуцианцы и протестанты. Культурный капитал и конец мультикультурализма - Лоуренс Харрисон - купить  книгу с доставкой

Евреи, конфуцианцы и протестанты

Лоуренс Харрисон
388 руб
Феномены мозга - Бехтерев В. М. - купить  книгу с доставкой

Феномены мозга

Бехтерев В. М.
415 руб

Метод дифракции отраженных электронов в материаловедении

Метод дифракции отраженных электронов  в материаловедении - купить  книгу с доставкой
Техносфера, твердый переплет, 2014

Код товара: 1056708

ISBN: 978-5-94836-385-1

Тип переплета: твердый переплет

Тираж книги: 1500

Формат книги: 70x100/16 (170x240 мм)

Количество страниц: 544

Временно отсутствует
Чтобы оставить заявку, введите свой e-mail
0
Аннотация к книге "Метод дифракции отраженных электронов в материаловедении":
Книга содержит материалы, полезные как для общего понимания принципа ДОЭ-анализа, истории его создания и развития, так и практическую информацию по исследованию процессов в материалах при сильных пластических деформациях (равноканальное угловое прессование (РКУП), сварка трением с перемешиванием), а также для понимания трехмерного анализа границ раздела методом комбинации послойного травления материала с помощью фокусированного ионного пучка и исследования поверхности
каждого слоя методом ДОЭ с последующей трехмерной реконструкцией набора двумерных данных ДОЭ.
Перевод на русский язык второго оригинального издания книги «Метод дифракции отраженных электронов в материаловедении» является одной из
первых исчерпывающих коллективных монографий в этой области.
Книга станет полезным настольным справочником для многих начинающих и практикующих специалистов в области электронной микроскопии, рентгеновского микроанализа и микротекстурного анализа материалов.

Серия Мир физики и техники

Лазеры. Исполнение, управление, применение

Юрген Айхлер, Ганс Иоахим Айхлер
613 руб

Генерация хаоса

Дмитриев А.С., Ефремова Е.В., Максимов Н.А.
828 руб

Учебник по общей электротехнике

Шатенье Г., Боэ М., Буи Д., Вайан Ж., Веркиндер Д.
402 руб